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sem图片上的参数揭秘_怎么看sem图上的参数(2024年12月焦点)

内容来源：少年郎网站优化团队所属栏目：导读更新日期：2024-12-02

sem图片上的参数

孔隙率测试新方法：SEM图像法详解 𐟓𘊦料的孔隙率通常可以通过压汞法和比表面积法（BET）来测试，这些方法适用于微米和纳米级别的孔径。今天，我们将介绍一种新的测试方法——SEM（或TEM）图像法。𐟔 SEM图像法测试孔隙率的原理是通过计算SEM图片上孔隙结构的面积与整体面积的比值来得出孔隙率。听起来很简单，但实际操作中，尤其是当孔径不规则且无规律分布时，事情就变得复杂了。因此，需要借助更专业的图像分析方法和工具，如灰阶法，来确保结果的准确性。𐟔犊面对多孔结构材料的SEM图片，其上密布着大小不一、形状不规则的小孔，可以采用灰阶法进行处理分析。灰阶法是一种有效的图像分析方法，特别适用于处理具有复杂孔隙结构的SEM图片，步骤如下：图像转换：将SEM图片转换为灰阶图像，使不同灰度值代表不同的孔隙大小或材料密度。设定阈值：设定合适的灰度阈值，以区分孔隙和材料基质，便于后续分析。孔隙识别与测量：利用图像处理软件识别孔隙，并测量其大小、形状等参数。数据分析：对孔隙参数进行统计分析，以评估多孔材料的性能和应用潜力。如图2所示，SEM图像的成像方式实际上为黑白，根据颜色深浅来实现图像显示，并且孔隙部分的颜色都很深。因此，我们根据计算机的显示方式，按照统计像素的办法，从浅到深统计好所有的像素，再选择孔隙部分的像素占总像素的比例即可计算出孔隙率。𐟓Š 如图3所示，通过计算机模拟出来的孔隙部分的像素（红色部分），然后通过像素统计结果（如图2）即为红色部分的孔隙像素总数，求出孔隙率即可。通过图像法测试孔隙率具有诸多优势，如简单、直观以及微区针对性。这种方法不仅可以直接观测到孔隙的大小，还能对特殊结果进行局部的孔隙分析。通过灰阶选择不同大小的孔隙进行统计，图像法展现出了灵活多变的特点，使我们能够更深入地了解多孔材料的微观结构。𐟔쀀

𐟔‹ 审判｜坠落的尼康充电器 𐟔Œ 要充电时，手滑了一下，充电器从手中滑落，重重地摔在木地板上。𐟘𑠩€š电后，指示灯不亮了，充电器“扑街”了。𐟘ž 于是，我上网一搜，发现这种情况并不罕见。好吧，那就只能买新的了。 𐟔 图片中的文字：第1张图片：用了7年的尼康充电器，一坠而亡。第2张图片：新充电器，双1A输出，智能数码充电器，型号ModeFB-DCENEL15SMD2。输入Input: 5V-=2.1A(Mn)，输出Oupu: 8.4v=100mx USBA/ITPBC。警告：1000mA㗲 way from chiden semnble nt 海标运售（家州）有限公司中国制造。第3张图片：小巧、双充、充电方式多样。第4张图片：EN-EL15 EN-EL'G 尼康多款机型都是这款电池，所以不难买到专用的充电器。第5张图片：液晶显示充电参数，脉冲式双通道充电。CH1 993mA 8.19v 002mAh，CH1 FC 1000mA 8.13v 0002mAh。第6张图片：极为先进的C口和经典的A口，取电方式和场合众多。第7张图片：未接电装入电池，能显示8秒电压状态。CH1 7.56v。第8张图片：充电器本身不重，有一定吸引力，不至于碰到就脱离。第9张图片：自带A口线，颇具科技风的显示屏，这块充电宝吃灰几年了，没想到还能再用。这次意外让我深刻认识到，设备的使用安全非常重要。希望大家在使用电子设备时，都能小心谨慎，避免类似的悲剧发生。𐟙

扫描电镜（SEM）常见问题解答 𐟓Œ 问题一：导电性差如何影响图像？导电性差的样品在扫描电镜（SEM）下可能会出现一系列问题，如荷电效应、图像局部异常明亮或暗淡、表面磨平、图像畸形和漂移等。这些问题主要是由于自由电子在样品局部累积形成静电场，影响了电子信息的正常溢出。通常可以通过喷金（碳）或导电染色来增强样品的导电性，降低加速电压，或在荷电效应产生前快速观察。 𐟓Œ 问题二：喷Au/喷Pt/喷C的具体应用场景是哪些？喷金（Au）、喷铂（Pt）或喷碳（C）主要用于增加样品的导电性，同时还能增加二次电子和背散射电子的产生，从而提高信噪比，减少电子束的穿透。C靶材特别适用于EDS、EBSD和WDS等成分分析。 𐟓Œ 问题三：磁性粉末如何消磁？对于磁性粉末样品，如果使用Zeise场发射SEM电镜，通常不需要消磁，可以参照常规粉末样品的制备方法。对于块状强磁性材料，可以通过加热或外加磁场进行消磁，市场上也有专门的消磁器可供使用。 𐟓Œ 问题四：什么样的样品适合液氮脆断？液氮脆断法主要用于高分子材料的断面观察。由于高分子材料具有一定的韧性，直接剪断的断面不够清晰，但放入液氮中可以实现脆性断裂。 𐟓Œ 问题五：什么是离子束损伤？部分样品不耐电子束，拍摄时可能会造成拍摄部位破裂和局部漂移。为了避免这种现象，可以降低加速电压及减小电子束流，加厚喷镀金属膜，并在拍摄时快速选定要拍摄的部位，较短时间内聚焦拍摄。 𐟓Œ 问题六：如何去除SEM图片中的电子束黑斑？电子束黑斑可能是由于样品较脏，发生了积碳。建议制好的样品注意保存环境或及时测试。 𐟓Œ 问题七：为什么同一个样品在不同仪器上拍摄效果不同？如果拍照参数设置相近，效果不会有太大不同。不同仪器在拍摄时，参数（探头、电压、束流等）设置不同，具体哪些参数的影响需要针对拍摄结果来分析。 𐟓Œ 问题八：二次电子与加速电压的关系加速电压越高，分辨率和信噪比通常更好；但若只考虑电压，电压越小，图像越清晰，特别是对于有表面细节结构的样品，在较低电压下可以看到样品的表面细节。

金琅A5M对决A6M，哪款更香？如果你正在考虑购买金琅A5M和A6M音箱，那么这篇文章可能会帮到你。这两款音箱在音质和体积上都有显著差异，选择哪款取决于你的实际需求。音质对比𐟎𖊊金琅A5M和A6M在音质上各有千秋。A5M的高音单元采用AST2560SEMK2气动振膜，而A6M则配备了AST256OSE MK3气动振膜。两者在低音方面也有所不同，A5M的低音单元是AC-130F3/0503A，而A6M则是AC-165F35TZ。在振膜材料上，两款音箱都采用了金琅自研的特殊硅化物，保证了高音的清晰度和低音的深沉。体积差异𐟓 在体积上，A5M的尺寸为宽188mm、高325mm、深305mm，而A6M则稍大一些，尺寸为宽222mm、高392mm、深337mm。这意味着A6M在听音空间上可能需要更多的空间。其他参数𐟔 除了音质和体积，两款音箱在其他参数上也有所不同。例如，A5M的频率响应范围为45Hz-40KHz(+3dB)，而A6M则为38Hz-40KHz(ⱳdB)。在功放功率方面，A5M的低音功放功率为100W*2（D类），而A6M则为180W*2（D类）。在输入接口上，两款音箱都支持模拟XLR、模拟RCA、数字同轴COX、数字光纤OPT、高清蓝牙和USB（免驱）。外观设计𐟎芊在外观设计上，金琅A5M和A6M也有不同的选择。A5M提供哑光漆的胡桃木和玫瑰木饰面，而A6M则提供钢琴漆的曜石黑和润玉白饰面。无论你喜欢哪种风格，这两款音箱都能满足你的需求。总结𐟓 总的来说，金琅A5M和A6M在音质、体积和其他参数上都有所不同。选择哪款取决于你的实际需求和听音环境。希望这篇文章能帮助你做出明智的选择！

科研必备：四大精密仪器详解 ### SEM：扫描电子显微镜 𐟔 扫描电子显微镜（SEM）是一种用于高分辨率微区形貌分析的大型精密仪器。它的景深大、分辨率高，成像直观且立体感强，放大倍数范围宽。最酷的是，待测样品可以在三维空间内进行旋转和倾斜。SEM不仅能测量多种样品，几乎不损伤和污染原始样品，还能同时获得形貌、结构、成分和结晶学信息。简直是科研人员的得力助手！ EDS：能谱仪 𐟓Š 能谱仪（EDS）利用不同元素X射线光子特征能量不同的特点来进行成分分析。各种元素都有自己的X射线特征波长，特征波长的大小取决于能级跃迁过程中释放出的特征能量△E。通过测量这些特征波长，EDS可以准确地确定样品的元素组成。 XRD：X射线衍射 𐟌 X射线衍射（XRD）是一种利用X射线来研究物质内部结构的技术。X射线是一种波长很短的电磁波，能穿透一定厚度的物质，并能使荧光物质发光、照相乳胶感光、气体电离。当一束X射线通过晶体时，会发生衍射现象。衍射波叠加的结果使射线的强度在某些方向上加强，在其他方向上减弱。通过分析在照相底片上得到的衍射花样，可以确定晶体结构。 EBSD：电子背散射衍射 𐟔„ 电子背散射衍射（EBSD）是SEM中的一种技术。入射于样品上的电子束与样品作用产生几种不同效应，其中之一就是在每一个晶体或晶粒内规则排列的晶格面上产生衍射。从所有原子面上产生的衍射组成“衍射花样”，这可被看成是一张晶体中原子面间的角度关系图。衍射花样包含晶系（立方、六方等）对称性的信息，而且，晶面和晶带轴间的夹角与晶系种类和晶体的晶格参数相对应，这些数据可用于EBSD相鉴定。这些精密仪器在科研中都有着广泛的应用，掌握它们的使用方法和原理，可以大大提升科研效率。希望这些小知识能对你有所帮助！ 𐟓š

国际贸易全流程详解：从零开始到成交国际贸易其实并没有你想象的那么复杂，只要掌握了基本流程，你也可以轻松上手。下面我就带你一步一步走过这个流程。 1️⃣ 开拓客户找到客户是第一步。你可以通过以下几种方式来寻找：平台发布：在阿里巴巴、亚马逊等平台上发布你的产品，等待客户来咨询。这些平台有免费的也有付费的，看你自己选择。参加展会：线下展会也是一个不错的选择，可以面对面和客户交流。邮件开发：通过Google或者LinkedIn搜索客户，或者使用一些软件来搜索客户，然后写邮件给他们。 SEO/SEM推广：主要是通过谷歌搜索引擎来吸引客户。社媒营销：利用Facebook、Twitter、YouTube等社交媒体平台进行内容营销。 2️⃣ 报价报价是关键的一步。你需要提供产品的详细信息，包括标准等级、质量等级、规格型号、技术参数、包装方式、交货期和运输方式等。常用的报价术语有FOB（船上交货）、CFR（成本加运费）和CIF（成本、保险费加运费）。 3️⃣ 订货订货可以通过多种方式，比如直接从工厂下单，或者通过一些平台购买库存尾货，这样通常比工厂下单更便宜，交货也更快。 4️⃣ 付款方式国际付款方式主要有信用证（L/C）、电汇（TT）和直接付款。每种方式都有自己的优缺点，具体选择要看你和客户的协商。 5️⃣ 通关手续出口商品需要办理出口商品检验证书，这是出口报关的前提。有些客户还会要求第三方机构的检验证实，或者自己派验货员过来检验。 6️⃣ 装船装船有两种方式：整装集装箱和拼装集装箱。整装集装箱也叫整柜出货，拼装集装箱则是按出口货物的体积或重量计算运费。 7️⃣ 运输保险运输保险是保障货物安全的重要环节。常见的保险有海洋货物运输保险、陆空邮货运输保险等。具体险别有平安险、水渍险和一切险等。 8️⃣ 提单结汇提单是出口商办理完出口通关手续后，由外运公司签出的单据。一般签三份，出口商留两份，办理退税等业务，一份寄给进口商用来办理提货等手续。 9️⃣ 货物交付货物装出后，进出口公司需要按照信用证的规定，提交相关单据给银行办理议付结汇手续。这个过程需要你提供箱单、发票、提单、出口产地证明等文件。 𐟔Ÿ 后续跟进货物交付后，还需要进行后续跟进，确保客户收到货物并满意。这样可以帮助你建立良好的客户关系，为以后的合作打下基础。国际贸易虽然复杂，但只要掌握了这些基本流程，你也可以轻松上手。希望这篇文章能帮到你！𐟓ˆ

太阳能电池截面SEM制样技巧大揭秘！𐟔 想要拍出像图一那样惊艳的太阳能电池截面SEM图像，但总是得不到理想的效果？𐟘ž 别担心，这里有一些实用的制样技巧，帮你轻松掌握！ 𐟔젩斥…ˆ，选择合适的制样方法至关重要。你需要选择一种能够充分展示太阳能电池截面的制样技术，确保图像清晰、层次分明。 𐟖𜯸 其次，在制样过程中，要注意细节。比如，确保截面平整，没有划痕或污渍，这样可以避免在SEM扫描时出现伪影。 𐟒ᠨ😦œ‰，选择合适的SEM参数也是关键。调整扫描速度、电子束能量和探测器增益，以获得最佳的图像质量。 𐟓𘠦œ€后，别忘了在制样后进行仔细检查。确保图像没有畸变、失焦或过曝等问题，这样才能得到满意的SEM图像。掌握这些技巧，你就能轻松拍出像图一那样的高质量太阳能电池截面SEM图像啦！𐟌Ÿ

AMOS画图秘籍，轻松构建模型！在数据分析的领域，结构方程模型（SEM）已经成为一种强大的工具，用于探索变量之间的复杂关系。AMOS（Analysis of Moment Structures）作为一款广泛使用的SEM软件，其画图工具为用户提供了直观且便捷的操作界面。下面我们来详细介绍一下如何使用AMOS的画图工具。一、AMOS画图工具界面介绍 𐟖𜯸 打开AMOS软件后，你会看到一个简洁而功能齐全的绘图区域。左侧的工具栏包含了各种绘图元素，如潜变量、观测变量、箭头、残差等。上方的菜单栏提供了一系列操作选项，如保存、导入数据、运行分析等。二、绘制潜变量 𐟕𕯸‍♂️ 潜变量是无法直接观测但通过观测变量来间接测量的变量。在AMOS中，点击左侧工具栏中的潜变量图标，然后在绘图区域点击即可添加潜变量。你可以通过双击潜变量来修改其名称和属性。三、绘制观测变量 𐟓Š 观测变量是可以直接测量和观测的数据。选择工具栏中的观测变量图标，在绘图区域适当位置点击添加。同样，双击观测变量可以进行名称和属性的编辑。四、连接变量 𐟔— 使用箭头工具将潜变量与观测变量、潜变量与潜变量之间建立联系。箭头的方向表示因果关系，通过双击箭头可以设置其参数，如固定系数、自由估计等。五、添加残差 𐟔„ 残差用于表示模型中未被解释的部分。在工具栏中选择残差图标，添加到相应的变量上。六、调整图形布局 𐟓 为了使绘制的模型图清晰美观，可以使用AMOS提供的布局调整功能。通过菜单栏中的“Layout”选项，您可以自动或手动调整变量的位置和间距。七、保存和导入图形 𐟒𞊥ˆ绘图后，记得保存您的模型图。AMOS支持多种格式的保存，方便您在不同的项目中使用。同时，您还可以导入已有的图形文件进行修改和分析。注意事项 ⚠️ 在绘制图形时，要确保模型的逻辑结构清晰合理，符合研究假设。对于复杂的模型，建议先在纸上进行初步构思，再在AMOS中绘制。仔细检查变量之间的连接和参数设置，避免错误。通过以上步骤，你就可以轻松使用AMOS软件进行模型构建了。希望这篇指南对你有所帮助！

SEM图像暗淡无光？四大原因揭秘！最近，许多小伙伴在拍摄SEM图像时遇到了效果不佳的问题。经过分析，发现以下几个原因可能是罪魁祸首： ❗️一、设备参数设置不当加速电压过低：电子束的能量决定了其对样品的穿透能力和激发的二次电子数量。如果加速电压设置过低，电子束能量不足，可能无法充分激发样品表面的二次电子，导致图像整体偏暗。扫描速度过快：扫描速度决定了电子束在每个像素点上的停留时间。如果扫描速度过快，每个像素点上的信号量不足，图像的信噪比会降低，从而显得暗淡。束斑直径过大：束斑直径决定了电子束在样品表面的作用范围。如果束斑直径过大，相邻区域的信号容易发生重叠和平均，导致图像分辨率降低，整体看起来偏暗。 ❗️二、样品制备问题样品导电性差：SEM拍摄时，如果样品导电性差，容易发生充电效应，导致电子束在样品表面扩散，无法有效激发二次电子，从而使图像整体偏暗。样品表面污染：样品表面的污染物会吸收或散射电子束，减少到达探测器的二次电子数量，导致图像暗淡。样品厚度或结构问题：对于较厚或结构复杂的样品，电子束可能无法完全穿透或激发足够的二次电子，导致图像整体偏暗。 ❗️三、拍摄环境干扰电磁干扰：如果SEM设备周围存在电磁干扰，可能会影响电子束的稳定性和方向性，导致图像质量下降，整体偏暗。振动干扰：设备或样品的微小振动也可能影响电子束的稳定性，进而影响图像的清晰度。 ❗️四、设备故障或老化电子枪老化：电子枪是SEM的核心部件之一，如果电子枪老化或损坏，可能会导致电子束发射不稳定，影响图像质量。透镜污染或损坏：透镜系统的污染或损坏也可能导致电子束无法准确聚焦在样品表面，从而影响图像的清晰度。综上所述，SEM图像拍出来黑乎乎的原因可能涉及设备参数设置、样品制备、拍摄环境干扰以及设备故障或老化等多个方面。为了获得高质量的SEM图像，需要从这些方面入手进行排查和调整。同时，操作者还需要具备一定的专业知识和技能，以确保在拍摄过程中能够正确操作设备并选择合适的拍摄参数。

电镜检测常见问题及解决方法指南 𐟔 图像模糊或失真：可能原因：电子束调节不当、透镜系统故障或样品表面不光滑。解决方案：重新调整电子束和透镜系统，确保样品表面平坦，并检查透镜系统的清洁度。 𐟔„ 低对比度图像：可能原因：样品表面缺乏导电性，或工作距离不合适。解决方案：在样品上涂覆导电性涂层，或调整工作距离以提高对比度。 𐟔Œ 样品表面充电：可能原因：样品绝缘性较强，电子束导致表面电荷积累。解决方案：涂覆导电性涂层，调整电子束参数，或使用低电子束能量。 𐟌미 透镜污染：可能原因：透镜或样品台上有污垢。解决方案：清理透镜和样品台，确保它们保持清洁状态。 𐟏ž️ 扫描电镜真空问题：可能原因：泵或真空系统故障。解决方案：检查真空系统，修复或更换故障的部件。 𐟑𛠦 𗥓伪影：可能原因：样品表面不均匀，金属涂层不均匀等。解决方案：优化样品准备过程，确保金属涂层均匀。 𐟌᯸ 射线伪影：可能原因：扫描电镜的射线进入探测器。解决方案：调整仪器参数，使用适当的屏蔽来减少射线进入探测器。 𐟏‹️‍♂️ 样品不平衡或破碎：可能原因：电子枪下加速电压较高时，样品因离心力不平衡而晃动。解决方案：检查样品装夹是否合适，确保样品均匀固定在挂钩上，并适当调整输送和接收样品的方法。 𐟒砦 𗥓粗糙或吸湿：可能原因：样品制备不当，表面情况不佳。解决方案：对样品进行仔细处理，确保刚载入到SEM室内的样品表面清洁和干燥。 ⚡ 检测不到电子信号：可能原因：电子枪工作异常或输送过程中管道出现故障。解决方案：检查电源开关和线路是否正常，必要时联系厂家提供售后服务。在进行电镜检测实验时，确保按照设备手册的建议进行操作，并在需要时寻求厂家或专业技术支持。此外，定期对设备和系统进行检查和保养，以降低设备故障发生的几率，从而延长其使用寿命。

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